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 少子寿命测试仪(MDP)
少子寿命测试仪(MDP) MDPlinescan
MDPlinescan
 
                    
 产品简介
产品简介
                 产品分类
产品分类
应用范围:灵活的OEM设备,用于多种不同样品的在线寿命测量:从单晶硅到多晶硅锭,从生成态晶圆片到不同镀层或金属化晶圆的过程控制。标准软件接口,易于连接到许多处理或自动化系统。
MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描。
样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒。
电池生产线上的来料质量检查是用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品。


还有许多其他的专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源。                                                              
  
允许单片调查
配方的基础测量
监控材料质量、工艺的完整性和稳定性
优势
在μ-PCD或稳态激发条件下测量少数载流子寿命和电阻率是这个工具的重点。
用于集成在生产线的多晶或单晶硅晶圆在不同的准备阶段,直到设备,砖或锭。
小尺寸和标准的自动化接口使集成变得容易。重点是长时间的可靠性和测量结果的精度。


| 样品 | 多晶或单晶晶圆原料, 晶锭,晶胞 | 
| 样品尺寸 | 大约50 x 50 mm2 | 
| 电阻率 | 0.2 - 103 Ohm cm | 
| conduction type | p, n | 
| 材质 | 硅晶圆,部分或*加工的晶圆,复合半导体等 | 
| 测量属性 | 载流子寿命 | 
| 硬件接口 | ethernet | 
| 大小 | 174 x 107 x 205 mm, 重量t: 3 kg | 
| 电源 | 24 V DC, 2 A | 
 
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